本報告旨在闡明白光LED產(chǎn)品的可靠性測試項(xiàng)目及壽命測試、環(huán)境測試的測試方法、參考標(biāo)準(zhǔn)及測試結(jié)果，為客戶在應(yīng)用白光LED產(chǎn)品時提供參考。

    ◆可靠性測試項(xiàng)目

    下表列出了白光LED產(chǎn)品可靠性測試項(xiàng)目、測試條件及失效判定標(biāo)準(zhǔn): 

    ◆壽命測試

    LED是電流驅(qū)動元件，隨著LED受電流作用時間的增加及環(huán)境的長期影響，LED發(fā)出的光通量會逐漸衰減，而且衰減的幅度而和速率受驅(qū)動電流的大小和環(huán)境條件的影響。目前行業(yè)內(nèi)普遍將LED光通量衰減為其初始值的70%所經(jīng)歷的使用時間L70，或LED光通量衰減為其初始值的50%所經(jīng)歷的使用時間L50，定義為LED的使用壽命。

    參考JEDEC標(biāo)準(zhǔn)文件JESD22-A108C JESD22-A101 B中提供的恒溫老化測試和恒溫恒濕老化測試的標(biāo)準(zhǔn)，白光LED產(chǎn)品進(jìn)行常溫老化測試、高溫老化測試和高溫高濕老化測試，下圖給出了相關(guān)的測試結(jié)果。

    ◆環(huán)境測試

    白光LED中包含了陶瓷基板、芯片、熒光粉、硅膠等多種不同材料并形成多個界面，在LED的使用過程中，當(dāng)外界環(huán)境條件(尤其是溫度和濕度條件)發(fā)生變化時，不同封裝材料之間的熱膨脹系數(shù)的差異容易造成LED失效。當(dāng)外界環(huán)境條件比較嚴(yán)苛?xí)r，例如高溫、低溫或者高濕條件，易導(dǎo)致封裝材料性能下降，從而造成LED失效。

    為了保證白光LED產(chǎn)品具有良好的環(huán)境穩(wěn)定性，參考JEDEC標(biāo)準(zhǔn)文件JESD22-A106B和JESD22-A104B，對白光LED產(chǎn)品進(jìn)行了嚴(yán)苛的環(huán)境測試——冷熱沖擊測試和高低溫循環(huán)測試。下圖表明了冷熱沖擊測試和高低溫測試一個回合的測試條件，共測試200回合。

    經(jīng)過200回合的冷熱沖擊和高低溫循環(huán)測試，白光LED產(chǎn)品未出現(xiàn)死燈及外觀不良等失效現(xiàn)象，呈現(xiàn)出了良好的環(huán)境穩(wěn)定性和可靠性。